周庆,余正伟.基于软件缺陷知识的测试框架研究[J].测控技术,2012,31(06):134-138
基于软件缺陷知识的测试框架研究
Testing Framework Based on Software Defect Knowledge
  
DOI:
中文关键词:  测试框架  软件缺陷  灰盒测试
英文关键词:testing framework  software defect  gray-box testing
基金项目:
作者单位
周庆 北京航空航天大学 可靠性与系统工程学院 
余正伟 北京航空航天大学 可靠性与系统工程学院 
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中文摘要:
      通过对软件测试框架的研究,给出了测试框架表述的三层模型,并从研究解决的软件测试问题域出发,提出基于缺陷知识的测试框架,具体阐述了该测试框架的三层模型,并且实现了基于缺陷知识的静态分析和灰盒动态测试技术。该测试框架为后续测试技术的研究提供了整体的理论支持。
英文摘要:
      By study of software testing framework,the three layer model expressed by the testing framework is presented.From the point of software testing problem domain,a testing framework based on software defect knowledge is proposed,the three models on the framework is specifically addressed,the techniques such as static analysis and dynamic gray-box testing based on flawed knowledge are implemented.The testing framework makes the theoretical foundation for the follow-up research of testing techniques.
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